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Atomic force microscopy on the Ga0.16In0.84As0.80Sb0.20 epilayer grown by metalorganic chemical vapor deposition 期刊论文
Chinese Physics Letters, 1998, 卷号: 15, 期号: 10, 页码: 724-726
作者:  Gao C. X.;  Li S. W.;  Yang J.;  Liu B. B.
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