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| 粗糙度对极紫外投影光刻掩模的影响 期刊论文 光电工程, 2005, 期号: 10, 页码: 80-83 作者: 杨雄; 金春水 ; 姚志华; 曹健林
caj(1187Kb)  |   收藏  |  浏览/下载:477/115  |  提交时间:2013/03/11 极紫外投影光刻 掩模 粗糙度 反射光谱 多层膜 |
| 含氟基团对液晶垂直排列的作用 期刊论文 高分子学报, 2005, 期号: 05, 页码: 720-724 作者: 马骥; 于涛 ; 彭增辉 ; 刘永刚 ; 阮圣平; 宣丽![](/image/person.jpg)
caj(81Kb)  |   收藏  |  浏览/下载:477/91  |  提交时间:2013/03/11 双酚a双肉桂酸酯 六氟双酚a双肉桂酸酯 液晶取向 垂直排列 表面能 |
| 钛合金着色技术的研究 期刊论文 材料保护, 2005, 期号: 09, 页码: 12-14+53-79 作者: 姜伟; 申德新; 张云琨; 张忠玉 ; 王树臣; 张艳红; 韩宇淳; 任明文
caj(248Kb)  |   收藏  |  浏览/下载:490/88  |  提交时间:2013/03/11 着色技术 钛合金 阳极氧化 |
| 近柱面中频面形检测中曲面拟合法精度问题研究 期刊论文 物理学报, 2005, 期号: 07, 页码: 3144-3148 作者: 谢本超; 卢振武 ; 李凤有
caj(105Kb)  |   收藏  |  浏览/下载:386/69  |  提交时间:2013/03/11 光学检测 近柱面 曲面拟合 |
| 超光滑超环面镜的检测 期刊论文 长春理工大学学报, 2005, 期号: 02, 页码: 23-25+28 作者: 耿淑杰; 周承志
caj(178Kb)  |   收藏  |  浏览/下载:387/39  |  提交时间:2013/03/11 超光滑表面 粗糙度 超环面 |
| Electronic transition and energy transfer processes in LaPO4-Ce3+/Tb3+ nanowires 期刊论文 Journal of Physical Chemistry B, 2005, 卷号: 109, 期号: 23, 页码: 11450-11455 作者: Yu L. X.; Song H. W.; Liu Z. X.; Yang L. M.; Zheng S.
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| Preparation of CdSe/ZnSe core-shell nanocrystal in one-step reaction 期刊论文 Chemical Research in Chinese Universities, 2005, 卷号: 21, 期号: 6, 页码: 728-733 作者: Fei X. F.; Shan G. Y.; Kong X. G.; Wang X.; Zeng Q. H.; Zhang Y. L.
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| Upconversion luminescence, intensity saturation effect, and thermal effect in Gd2O3 : Er-3,Yb3+ nanowires 期刊论文 Journal of Chemical Physics, 2005, 卷号: 123, 期号: 17 作者: Lei Y. Q.; Song H. W.; Yang L. M.; Yu L. X.; Liu Z. X.; Pan G. H.; Bai X.; Fan L. B.
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| Electrical and structural properties of p-type ZnO : N thin films prepared by plasma enhanced chemical vapour deposition 期刊论文 Semiconductor Science and Technology, 2005, 卷号: 20, 期号: 8, 页码: 796-800 作者: Xiao Z. Y.; Liu Y. C.; Zhang J. Y.; Zhao D. X.; Lu Y. M.; Shen D. Z.; Fan X. W.
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| Characterization of ZnO/Mg0.12Zn0.88O heterostructure grown by plasma-assisted molecular beam epitaxy 期刊论文 Journal of Crystal Growth, 2005, 卷号: 278, 期号: 1—4, 页码: 299-304 作者: Lu Y. M.; Wu C. X.; Wei Z. P.; Zhang Z. Z.; Zhao D. X.; Zhang J. Y.; Liu Y. C.; Shen D. Z.; Fan X. W.
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