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柱式平板声子晶体点缺陷传感器关键技术研究 期刊论文
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 2016, 期号: 6
作者:  黄翔宇
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声子晶体  缺陷态  加工工艺  柱式结构  损耗因素  
硅基平板声子晶体传感器高灵敏度 学位论文
: 中国科学院大学, 2015
作者:  龙斌
Adobe PDF(3172Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:199/2  |  提交时间:2016/04/11
声子晶体  缺陷态  质量灵敏度  磁性微粒