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光子计数成像探测器电荷感应层Ge薄膜特性研究 期刊论文
长春理工大学学报(自然科学版), 2016, 期号: 4, 页码: 38-41
作者:  郑鑫;  陈波;  王孝东;  张宏吉;  李云鹏;  于再超
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Ge薄膜  直流磁控溅射  Ar气通入量  沉积速率  电学性质  
热处理对ZnO:Al薄膜的结构、光学和电学性质的影响 期刊论文
中国科学G辑:物理学、力学、天文学, 2004, 期号: 03, 页码: 345-353
作者:  陈艳伟;  于文华;  刘益春
caj(104Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：435/34  |  提交时间：2013/03/11
Zno:Al薄膜  光致发光  电学性质  结构性质  Vander Pauw  测试