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交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检 期刊论文
测试技术学报, 1999, 期号: 03, 页码: 175-179
作者:  康连福
caj(151Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:263/28  |  提交时间:2013/03/11
可控硅元件  控制断电相位  探伤