Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检 | |
康连福 | |
1999-08-15 | |
发表期刊 | 测试技术学报
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期号 | 03页码:175-179 |
关键词 | 可控硅元件 控制断电相位 探伤 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31697 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 康连福. 交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检[J]. 测试技术学报,1999(03):175-179. |
APA | 康连福.(1999).交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检.测试技术学报(03),175-179. |
MLA | 康连福."交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检".测试技术学报 .03(1999):175-179. |
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交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检.caj(151KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
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