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Precision measurement of X-axis stage mirror profile in scanning beam interference lithography by three-probe system based on bidirectional integration model 期刊论文
Optics Express, 2017, 卷号: 25, 期号: 9
作者:  Liu, Z. W.;  S. Jiang;  X. T. Li;  Y. Song;  W. H. Li and Bayanheshig
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Enhanced spectral response of an AlGaN-based solar-blind ultraviolet photodetector with Al nanoparticles 期刊论文
Optics Express, 2014, 卷号: 22, 期号: 20, 页码: 24286-24293
作者:  Bao G. H.;  Li D. B.;  Sun X. J.;  Jiang M. M.;  Li Z. M.;  Song H.;  Jiang H.;  Chen Y. R.;  Miao G. Q.;  Zhang Z. W.
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