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用于非球面检测的计算全息图制作研究 学位论文
: 中国科学院大学, 2014
作者:  赵龙波
Adobe PDF(3262Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:396/2  |  提交时间:2015/05/03
计算全息图  非球面检测  激光直写  反应离子刻蚀  衍射光学元件加工  
基于微光学阵列元件的二维位移测量装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201210088617.4, 申请日期: 2014-05-28, 公开日期: 2014-05-28
发明人:  卢振武;  刘华;  王尧;  孙强
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