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Small-size, high-resolution angular displacement measurement technology based on an imaging detector 期刊论文
Applied Optics, 2017, 卷号: 56, 期号: 3
作者:  Yu, H.;  Q. H. Wan;  X. R. Lu;  Y. C. Du and S. W. Yang
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Analysis of junction temperature and modification of luminous flux degradation for white LEDs in a thermal accelerated reliability test 期刊论文
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 22
作者:  Ke, H. L.;  L. Jing;  J. Hao;  Q. Gao;  Y. Wang;  X. X. Wang;  Q. Sun and Z. J. Xu
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