Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
高熔点焊球BGA返修工艺研究 | |
张艳鹏; 王威; 王玉龙; 孙海超 | |
2020-01-18 | |
发表期刊 | 电子工艺技术 |
卷号 | 41期号:01页码:40-42 |
摘要 | BGA封装器件的陶瓷基体或3D-plus本体大都使用铅系高熔点焊球(Sn10Pb90)通过SBC工艺与印制板焊盘间实现连接。由于铅系高熔点焊球采用有铅焊接时不发生融化,其焊接和返修过程均区别于非SBC工艺BGA封装。针对铅系高熔点焊球BGA进行了返修对比试验,研究焊球成分和焊膏施加方式对SBC工艺BGA封装返修的影响,最终确立一套适用于铅系高熔点焊球BGA的高可靠性返修工艺。 |
关键词 | 高熔点焊球 SBC BGA 返修 |
URL | 查看原文 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/64057 |
专题 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
作者单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
第一作者单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张艳鹏,王威,王玉龙,等. 高熔点焊球BGA返修工艺研究[J]. 电子工艺技术,2020,41(01):40-42. |
APA | 张艳鹏,王威,王玉龙,&孙海超.(2020).高熔点焊球BGA返修工艺研究.电子工艺技术,41(01),40-42. |
MLA | 张艳鹏,et al."高熔点焊球BGA返修工艺研究".电子工艺技术 41.01(2020):40-42. |
条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
高熔点焊球BGA返修工艺研究.pdf(756KB) | 期刊论文 | 出版稿 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 |
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