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极紫外反射镜氧化物保护层的制备与表征
王珣; 金春水; 李春; 匡尚奇
2015-03-10
发表期刊光学学报
期号03页码:411-418
摘要极紫外(EUV)反射镜在使用过程中的氧化及表面碳污染沉积,严重影响了极紫外光刻(EUVL)技术的工业应用。为了延长EUV反射镜的稳定性与使用寿命,一般采取在Mo/Si多层膜表面添加保护层。采用直流反应磁控溅射技术,建立氧气流量与溅射电压之间的迟滞回线关系,进而准确掌握不同氧化物保护层所需氧气量,以此减少过多的活性氧对下层Mo/Si多层膜的影响,提高镜面的反射率。选用Ru O2与Ti O2两种保护层材料进行比较,根据充氧量的不同,分析不同反应阶段的薄膜特性。针对催化性和物理稳定性更好的Ti O2薄膜,在晶相、表面粗糙度、截面均匀性和化学组分等方面给予评价。研制出膜质致密均匀的非晶态Ti O2薄膜,其表面粗糙度优于100 pm;Ti O2纯度(质量分数)达97.2%;保护层厚度为2 nm的Mo/Si多层膜的反射率损失小于5%,满足EUV外多层膜的基本要求。
关键词薄膜 极紫外保护层 直流反应磁控溅射 迟滞回线
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/53892
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
王珣,金春水,李春,等. 极紫外反射镜氧化物保护层的制备与表征[J]. 光学学报,2015(03):411-418.
APA 王珣,金春水,李春,&匡尚奇.(2015).极紫外反射镜氧化物保护层的制备与表征.光学学报(03),411-418.
MLA 王珣,et al."极紫外反射镜氧化物保护层的制备与表征".光学学报 .03(2015):411-418.
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