Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 优化公差对产品合格率影响的计算机模拟 | |
| 杨华民; 王黎明; 姜会林; 李共德; 任涛; 杨大任; 韩进玲 | |
| 1997-05-20 | |
| 发表期刊 | 光学技术
 |
| 期号 | 03页码:48-51 |
| 关键词 | 经济公差 计算机模拟 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31338 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨华民,王黎明,姜会林,等. 优化公差对产品合格率影响的计算机模拟[J]. 光学技术,1997(03):48-51. |
| APA | 杨华民.,王黎明.,姜会林.,李共德.,任涛.,...&韩进玲.(1997).优化公差对产品合格率影响的计算机模拟.光学技术(03),48-51. |
| MLA | 杨华民,et al."优化公差对产品合格率影响的计算机模拟".光学技术 .03(1997):48-51. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 优化公差对产品合格率影响的计算机模拟.c（72KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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