Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 红外焦平面阵列无效像元检测技术研究 | |
马冬梅
| |
| 2008-04-15 | |
| 发表期刊 | 半导体光电
 |
| ISSN | 1001-5869 |
| 期号 | 2 |
| 摘要 | 提出了一种基于噪声等效温差(NETD)和灰度最小方差的红外焦平面阵列无效像元检测方法。无效像元包括过热像元和死像元。首先利用三维噪声模型建立图像数据集,然后分别判断过热像元和死像元。通过像元的噪声电压值与10倍NETD的比较来实现过热像元的判别;对于死像元的判别处理是,设计了9个不同的窗口,分别计算每个窗口的方差并选取方差最小的窗口,最后通过比较窗口中心像元灰度与均值灰度的差值是否落在3倍方差内作为评判死像元的标准。最后通过实验证明,该方法具有误判率较小,定位准确率高等特点。 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24051 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马冬梅. 红外焦平面阵列无效像元检测技术研究[J]. 半导体光电,2008(2). |
| APA | 马冬梅.(2008).红外焦平面阵列无效像元检测技术研究.半导体光电(2). |
| MLA | 马冬梅."红外焦平面阵列无效像元检测技术研究".半导体光电 .2(2008). |
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| 红外焦平面阵列无效像元检测技术研究.ca（281KB） | 开放获取 | -- | 浏览 请求全文 | |||
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