Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
星载超光谱成像仪杂散光及其测量 | |
张军强; 吴清文; 颜昌翔 | |
2010-10-20 | |
发表期刊 | 光谱学与光谱分析 |
ISSN | 1000-0593 |
卷号 | 30期号:10页码:2861-2865 |
摘要 | 超光谱成像仪比一般光谱仪器具有更多的光谱通道和更高的光谱分辨率,而杂散光是影响超光谱成像仪光谱测量精度的重要因素之一,当前光谱仪器的杂散光测量方法尚不能满足超光谱成像仪杂散光检测的需要。作者探讨了此类成像光谱仪杂散光的定义、来源和危害,论述了使用杂散光影响因子di,j描述光谱仪杂散光的可行性和优越性,并给出了杂散光受扰系数fi(λ)和杂散光干扰系数Fi(λ)的定义、物理意义和工程应用价值。最后,介绍了使用窄带滤光片测量星载超光谱成像仪杂散光的测量系统组成、测量步骤和测量结果。结果表明:杂散光影响因子di,j能正确表示光谱仪的杂散光特性,与光源、滤光片、探测器等测量条件无关,而测量效率比谱杂散光系数法至少提高1倍,满足星载超光谱成像仪杂散光测量的工程需要。 |
收录类别 | EI ; SCI |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23673 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张军强,吴清文,颜昌翔. 星载超光谱成像仪杂散光及其测量[J]. 光谱学与光谱分析,2010,30(10):2861-2865. |
APA | 张军强,吴清文,&颜昌翔.(2010).星载超光谱成像仪杂散光及其测量.光谱学与光谱分析,30(10),2861-2865. |
MLA | 张军强,et al."星载超光谱成像仪杂散光及其测量".光谱学与光谱分析 30.10(2010):2861-2865. |
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星载超光谱成像仪杂散光及其测量.caj(509KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
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