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半导体激光器列阵的smile效应与封装技术
刘云; 王立军
2010-03-01
发表期刊光学精密工程
ISSN1004-928X
卷号18期号:3页码:552-558
摘要为了减小半导体激光器列阵在封装过程中引入热应力而产生的smile效应,提高半导体激光器列阵光束质量,利用对半导体激光器列阵发光点成像放大的方法,准确测量了半导体激光器列阵的smile效应,测量误差为±0.1μm。由于smile效应的准确测量能客观地比较减小smile效应的各种技术与方法,本文根据分析测量结果,提出了通过优化封装半导体激光器列阵焊接回流曲线的方法,使smile效应值控制在±0.5μm内。该方法减小了半导体激光器列阵的smile效应值,提高了激光器列阵光束质量,为下一步研制小芯径、高光束质量半导体激光器列阵光纤耦合模块提供了基础条件。
收录类别EI
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23512
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
刘云,王立军. 半导体激光器列阵的smile效应与封装技术[J]. 光学精密工程,2010,18(3):552-558.
APA 刘云,&王立军.(2010).半导体激光器列阵的smile效应与封装技术.光学精密工程,18(3),552-558.
MLA 刘云,et al."半导体激光器列阵的smile效应与封装技术".光学精密工程 18.3(2010):552-558.
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