扫描探针显微镜外接扩展I_V装置的设计与实践

	扫描探针显微镜外接扩展I_V装置的设计与实践
	孟中
	2008-07-04
发表期刊	实验技术与管理
ISSN	1002-4956
卷号	7 期号:26 页码:61
摘要	近些年来,各种功能材料纳米区域的伏安特性得到越来越多的关注,并已有大量相关研究成果发布。这些科研的实验工作大多由扫描探针显微镜来完成,然而商用仪器的技术指标固定,提供的直流电压和电流的测量范围有限。通过对日本精工SPA-400扫描探针显微镜的I/V装置进行基于单片机系统的扩展二次开发,结合自行开发的软件包,大大提高了原系统的I/V测量范围,可适合多种晶体样本的测量。该设计避免了重新投入造成的成本浪费,值得推广采用。
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/21717
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	孟中. 扫描探针显微镜外接扩展I_V装置的设计与实践[J]. 实验技术与管理,2008,7(26):61.
APA	孟中.(2008).扫描探针显微镜外接扩展I_V装置的设计与实践.实验技术与管理,7(26),61.
MLA	孟中."扫描探针显微镜外接扩展I_V装置的设计与实践".实验技术与管理 7.26(2008):61.