Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
半导体光学测量真空辅助低温装置 (实用新型) | |
武胜利; 王立军![]() | |
1999-04-14 | |
专利权人 | 中国科学院长春物理研究所 |
公开日期 | 1999-04-14 |
专利类型 | 实用新型 |
摘要 | 一种半导体光学测量真空辅助低温装置,属于光学测试辅助设备。由聚四氟乙烯盖(11)密封并装有间隙为6mm的上下两个导光玻璃窗口(8、9)把真空样品室(4)密封,间隙中装有电阻加热丝(10)保证玻璃窗口不结霜,样品室(4)与无氧铜散热器做成一体,并放入有夹层真空的…… |
申请日期 | 1997-12-27 |
专利号 | 2314365 |
语种 | 中文 |
申请号 | 97246539.1 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12785 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 武胜利,王立军,付德惠,等. 半导体光学测量真空辅助低温装置 (实用新型). 2314365[P]. 1999-04-14. |
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文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN199900231436500000(128KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
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