Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 测量高反射率的方法和装置 （发明） | |
| 王占青; 陈奋飞; 周秀良 | |
| 1990-08-15 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 1990-08-15 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 本发明是在光谱光度计上加对称谐振腔多次反射装置测量镜面高反射率的方法和装置．对称谐振腔放在可定位转动１８０°的圆盘上．高反射率是通过公式Ｒ＝４ＮＥ－［２］Ｅ－［４］／Ｅ－［１］Ｅ－［２］求得．本方法对样品放置精度要求不高．测量高反射率最佳方案可采用对称双光路结…… |
| 申请日期 | 1985-04-01 |
| 专利号 | 1006089 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | 85101719.3 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12674 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王占青,陈奋飞,周秀良. 测量高反射率的方法和装置 （发明）. 1006089[P]. 1990-08-15. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN199000100608900000（239KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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