中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	一种微小光程差测量系统 （发明）
	徐炳德
	1987-12-02
专利权人	中国科学院长春光学精密机械研究所
公开日期	1987-12-02
专利类型	发明专利
摘要	一种微小光程差测量系统．属于物理学领域中一种光学计量测试装置［ＧＯＩＪ９／００］，它是利用光拍相位变化来测量微小光程差的一种光电系统．本发明采用含有电光移相器的双臂可调程平行光路作为二不同频率光的非共程光路，选用了具有较佳性能参数的双频激光，因而使系统可测量１……
申请日期	1985-04-01
语种	中文
申请号	85102287.1
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12652
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	徐炳德. 一种微小光程差测量系统 （发明）[P]. 1987-12-02.

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CN198608510228700000（580KB）			开放获取	--	浏览 下载

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