深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法 (发明)

	深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法 (发明)
	冯晓国; 高劲松; 梁凤超; 赵晶丽
	2012-07-25
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-07-25
专利类型	发明专利
摘要	深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法。属于深凹曲面上测量金属网栅膜的相对电阻的测量工具和方法。电阻接触测量头的结构及连接关系：电极安装在卡簧上，支撑卡簧通过压簧调节接触应力的滑杆，外套为电极和滑杆提供支撑和运动导向，绝缘柱支撑压簧，由连杆将电阻接触测量头和与外机构连接。测量头做两套并通过连杆连接成一分规形式……
资助项目	101833038B
申请号	201010144774.3
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11743
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	冯晓国,高劲松,梁凤超,等. 深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法 (发明)[P]. 2012-07-25.