Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
基于X射线衍射仪测量超光滑表面的方法 (发明) | |
陈波![]() | |
2012-03-21 | |
专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
公开日期 | 2012-03-21 |
专利类型 | 发明专利 |
摘要 | 本发明涉及检测超光滑表面粗糙度的方法,特别是一种基于X射线衍射仪测量超光滑表面的方法,以波长λ小于4的X射线作为探测光束掠入射到置于样品台上的被测样品表面上,其掠入射角小于样品在X射线波段的全反射临界角。X射线衍射仪上的光子计数探测器以设定的间隔和速度旋转逐步扫描接收从样品表面反射出的散射光束,记录逐步的散射光强∏(θ…… |
资助项目 | 101738407B |
申请号 | 200910218063.3 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11701 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈波,王永刚. 基于X射线衍射仪测量超光滑表面的方法 (发明)[P]. 2012-03-21. |
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文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN201010173840700000(247KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
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