中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	光学成像系统波相差的测试方法 (发明)
	马冬梅; 陈土泉; 刘志祥; 聂真威
	2010-02-10
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	本发明涉及对光学成像系统的成像质量进行精确测评的检测方法，特别是一种光学成像系统波相差的测试方法。被照明光源照亮的星点目标板发出的光经平行光管后成为平行光，被测试光学系统接收此平行光后在其光学系统的像面上形成星点目标板的图像，由所述的设有显微物镜摄像头的ＣＣＤ像机接收此图像后，经所述带有图像采集卡的计算机对图像进行采集……
资助项目	101644606
申请号	200910067352.8
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11642
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	马冬梅,陈土泉,刘志祥,等. 光学成像系统波相差的测试方法 (发明)[P]. 2010-02-10.

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CN201010164460600000（434KB）			开放获取	--	浏览 下载

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