一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置 (发明)

	一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置 (发明)
	巩岩; 陈波
	2004-09-15
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2004-09-15
专利类型	发明专利
摘要	一种掠发射Ｘ射线荧光分析用样品制备装置，属于Ｘ射线荧光分析应用技术领域中的一种荧光分析用样品的制备装置。本发明要解决的技术问题是：使被待测分析物质产生高温等离子体，高速喷发沉积在透明载物片上，形成待测样品，解决技术问题的技术方案是：采用脉冲宽度足够窄的激光器作光源，选择非球面聚光镜聚焦激光能量，待测物的载台沿光轴方向可……
资助项目	1166935
申请号	2109015.7
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11178
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	巩岩,陈波. 一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置 (发明)[P]. 2004-09-15.