用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法 (发明)

	用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法 (发明)
	沈湘衡; 张波; 姬琪; 王红园
	2009-06-24
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2009-06-24
专利类型	发明专利
摘要	用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法，属于光电仪器检验技术领域中涉及的一种检测方法。要解决的技术问题是：提供一种用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法。技术方案为：建立的检验测量系统包括：吊环、接线夹、电缆线、开关、电池、重锤、合金钢丝、被测仪器；方法步骤如下：首先，将合金钢丝的两端分别绑在吊……
资助项目	100504334
申请号	200610163249.X
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11163
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	沈湘衡,张波,姬琪,等. 用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法 (发明)[P]. 2009-06-24.