Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
在低温下对硅表面氧化物的去除和外延生长方法 (发明) | |
张吉英; 范希武; 赵晓薇; 刘益春 | |
2002-08-21 | |
专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
公开日期 | 2012-08-29 |
专利类型 | 发明专利 |
摘要 | 本发明属于硅基半导体微电子材料技术领域,利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)在低压状态下,由高频感应在生长室内产生强的等离子体放电轰击Si衬底表面,等离子体轰击Si表面温度低,使Si表面氧化物在低温度下即可分解,实现去除Si表面氧化层作用。提供一种在低真空、在低温下对硅表面氧化物的去除和/或外延生长方法。实现了等离子…… |
资助项目 | 1365139 |
申请号 | 1116432.8 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11040 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张吉英,范希武,赵晓薇,等. 在低温下对硅表面氧化物的去除和外延生长方法 (发明)[P]. 2002-08-21. |
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CN200200136513900000(210KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
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