Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
低温下用磁控溅射技术制备无应力氧氮硅薄膜 (发明) | |
刘益春; 吕有明; 刘玉学; 张吉英; 申德振; 范希武 | |
2002-08-14 | |
专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
公开日期 | 2012-08-29 |
专利类型 | 发明专利 |
摘要 | 本发明涉及制备微电子介电层、光电子材料与器件保护层、介电层。在Si↓[3]N↓[4]薄膜中掺入适量的SiO↓[2],再利用磁控溅射技术,通过调节射频功率、气压和N↓[2]/O↓[2]的气体流速比,在低温条件下制备出无应力a-SiO↓[x]N↓[y]薄膜。本发明实现超厚保护膜的生长,以满足光电子器件绝缘层、保护层等方面的…… |
资助项目 | 1363717 |
申请号 | 1138795.5 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11036 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘益春,吕有明,刘玉学,等. 低温下用磁控溅射技术制备无应力氧氮硅薄膜 (发明)[P]. 2002-08-14. |
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CN200200136371700000(172KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
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