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Carrier behavior in the vicinity of pit defects in GaN characterized by ultraviolet light-assisted Kelvin probe force microscopy 期刊论文
SCIENCE CHINA-PHYSICS MECHANICS & ASTRONOMY, 2019, 卷号: 62, 期号: 6, 页码: 6
作者:  Kai, CuiHong;  Sun, XiaoJuan;  Jia, YuPing;  Shi, ZhiMing;  Jiang, Ke;  Ben, JianWei;  Wu, You;  Wang, Yong;  Liu, HeNan;  Li, XiaoHang;  Li, DaBing
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pit defects  surface potential  electron concentration  
Generation of Color Images by Utilizing a Single Composite Diffractive Optical Element 期刊论文
MICROMACHINES, 2018, 卷号: 9, 期号: 10, 页码: 9
作者:  Wang, Jiazhou;  Liu, Liwei;  Cao, Axiu;  Pang, Hui;  Xu, Chuntao;  Mu, Quanquan;  Chen, Jian;  Shi, Lifang;  Deng, Qiling
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diffractive optics  gratings  microfabrication  computer holography