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Effective method to study the thickness-dependent dielectric functions of nanometal thin film 期刊论文
Optics Letters, 2016, 卷号: 41, 期号: 21
作者:  Hu, E. T.;  Q. Y. Cai;  R. J. Zhang;  Y. F. Wei;  W. C. Zhou;  S. Y. Wang;  Y. X. Zheng;  W. Wei and L. Y. Chen
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