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Detection of an ordered-structure fraction in amorphous silicon 期刊论文
Journal of Applied Crystallography, 2016, 卷号: 49
作者:  Wang, X. D.;  B. Chen;  H. F. Wang;  X. Zheng;  S. J. Liu;  J. B. Wang;  B. Li;  S. M. Yu and Z. X. Cui
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Detection of medium-range-order structure in amorphous germanium films by spectroscopic ellipsometry 期刊论文
Journal of Applied Crystallography, 2015, 卷号: 48, 页码: 1011-1015
作者:  Wang, X. D.;  B. Chen;  H. F. Wang;  B. Chen;  S. J. Liu;  Z. X. Cui;  B. Li;  J. B. Wang;  S. M. Wang and Y. P. Li
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