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优化公差对产品合格率影响的计算机模拟 期刊论文
光学技术, 1997, 期号: 03, 页码: 48-51
作者:  杨华民;  王黎明;  姜会林;  李共德;  任涛;  杨大任;  韩进玲
caj(72Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：359/58  |  提交时间：2013/03/11
经济公差  计算机模拟