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精磨光学元件面形的干涉检测技术研究 期刊论文
电子测量与仪器学报, 2015, 期号: 04, 页码: 558-562
作者:  代雷;  吴迪;  张健;  张春雷;  于长淞;  谷勇强
caj(418Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：249/94  |  提交时间：2016/07/06
精磨检测  光学元件  干涉检测  
基于有限元及神经网络的磨削温度仿真预测 期刊论文
电子测量与仪器学报, 2013, 期号: 11, 页码: 1080-1085
作者:  马占龙;  王高文;  张健;  谷勇强;  代雷;  彭利荣
caj(343Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：493/144  |  提交时间：2014/03/07
磨削温度  有限元  神经网络  仿真  预测