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Effect of Intrinsic Stress on Structural and Optical Properties of Amorphous Si-Doped SnO2 Thin-Film 期刊论文
Materials, 2017, 卷号: 10, 期号: 1
作者:  Ning, H. L.;  X. Z. Liu;  H. K. Zhang;  Z. Q. Fang;  W. Cai;  J. Q. Chen;  R. H. Yao;  M. Xu;  L. Wang;  L. F. Lan;  J. B. Peng;  X. F. Wang and Z. C. Zhang
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All-Aluminum Thin Film Transistor Fabrication at Room Temperature 期刊论文
Materials, 2017, 卷号: 10, 期号: 3
作者:  Yao, R. H.;  Z. K. Zheng;  Y. Zeng;  X. Z. Liu;  H. L. Ning;  S. B. Hu;  R. Q. Tao;  J. Q. Chen;  W. Cai;  M. Xu;  L. Wang;  L. F. Lan and J. B. Peng
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Effective method to study the thickness-dependent dielectric functions of nanometal thin film 期刊论文
Optics Letters, 2016, 卷号: 41, 期号: 21
作者:  Hu, E. T.;  Q. Y. Cai;  R. J. Zhang;  Y. F. Wei;  W. C. Zhou;  S. Y. Wang;  Y. X. Zheng;  W. Wei and L. Y. Chen
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Rectifying and photovoltaic effects observed in mesoporous MCM-41 silica film on silicon 期刊论文
Materials Letters, 2004, 卷号: 58, 期号: 1—2, 页码: 1-4
作者:  Cai Q.;  Zou W. Y.;  Luo Z. S.;  Wen Q. X.;  Pang W. Q.;  Cui F. Z.
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