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The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress 期刊论文
Ieee Transactions on Electron Devices, 2016, 卷号: 63, 期号: 3
作者:  Hao, J.;  Q. Sun;  Z. J. Xu;  L. Jing;  Y. Wang and H. L. Ke
浏览  |  Adobe PDF(2301Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：295/84  |  提交时间：2017/09/11