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Comparison of online and offline tests in LED accelerated reliability tests under temperature stress 期刊论文
Applied Optics, 2015, 卷号: 54, 期号: 33, 页码: 9906-9910
作者:  Ke, H. L.;  L. Jing;  Q. Gao;  Y. Wang;  J. Hao;  Q. Sun and Z. J. Xu
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