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Comparative spectroscopic studies of MOCVD grown AlN films on Al2O3 and 6H-SiC 期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2021, 卷号: 857, 期号: 13
作者:  J. H. Yin;  D. H. Chen;  H. Yang;  Y. Liu;  D. N. Talwar;  T. L. He;  I. T. Ferguson;  K. Y. He;  L. Y. Wan and Z. C. Feng
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Optical and structural properties of AlN thin films deposited on different faces of sapphire substrates 期刊论文
Semiconductor Science and Technology, 2021, 卷号: 36, 期号: 4
作者:  J. Yin;  B. Zhou;  L. Li;  Y. Liu;  W. Guo;  D. N. Talwar;  K. He;  I. T. Ferguson;  L. Wan and Z. C. Feng
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