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Scanning ion beam etching: A method for the fabrication of computer-generated hologram with nanometric accuracy for aspherical testing 期刊论文
Optics and Lasers in Engineering, 2021, 卷号: 139
作者:  R. Wang;  Z. Zhang;  Y. Bai;  Y. Wang;  X. Yin;  L. Kong;  W. Deng;  D. Xue and X. Zhang
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