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柱式平板声子晶体点缺陷传感器关键技术研究 期刊论文
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 2016, 期号: 6
作者:  黄翔宇
收藏  |  浏览/下载：175/0  |  提交时间：2017/09/17
声子晶体  缺陷态  加工工艺  柱式结构  损耗因素