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High-accuracy measurement of the focal length and distortion of optical systems based on interferometry 期刊论文
Applied Optics, 2018, 卷号: 57, 期号: 18, 页码: 5217-5223
作者:  Yang, G. Q.;  Miao, L.;  Zhang, X.;  Sun, C.;  Qiao, Y. F.
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talbot interferometry  Optics  
Measurement of gain characteristics of semiconductor lasers by amplified spontaneous emissions from dual facets 期刊论文
Optics Express, 2013, 卷号: 21, 期号: 8
作者:  Ma M. L.;  Wu J.;  Ning Y. Q.;  Zhou F.;  Yang M.;  Zhang X.;  Zhang J.;  Shang G. Y.
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