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全视场成象光谱测量方法及装置 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2004-06-09, 公开日期: 2004-06-09
发明人:  向阳
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大视场无畸变指纹识别光学系统 （发明） 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 1141063, 申请日期: 2004-03-10, 公开日期: 2004-03-10
发明人:  韩昌元;  冯秀恒;  芦苇;  武晓东;  李鹤玲
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