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In situ Fourier transform P-polarized infrared reflection absorption spectroscopic investigation of an interface properties of SiO2/Si(100) deposited using electron cyclotron resonance microwave plasma at room temperature 期刊论文
Thin Solid Films, 2000, 卷号: 370, 期号: 1—2, 页码: 199-202
作者:  Jia Y.;  Liang Y.;  Liu Y. C.;  Liu Y. X.;  Shen D. Z.
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Spectral broadening properties of amplified spontaneous emission from a copolymer 期刊论文
Thin Solid Films, 2000, 卷号: 363, 期号: 1—2, 页码: 185-187
作者:  Wang S. M.;  Liu X. Y.;  Li W. L.;  Wang L. J.;  Lee S. T.
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