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ION-BEAM MODIFICATION OF MO-SI MULTILAYER SYSTEMS FOR X-RAY REFLECTION 期刊论文
Applied Surface Science, 1992, 卷号: 55, 期号: 2-3, 页码: 97-103
作者:  Verhoeven J.;  Lu C. G.;  Puik E. J.;  Vanderwiel M. J.;  Huijgen T. P.
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