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Reversible manipulation of lattice defects in single-crystal SnO2 microrod by applying mechanical stress and voltage 期刊论文
Journal of Applied Physics, 2018, 卷号: 125, 期号: 8
作者:  Sakurai, Makoto;  Liu, Kewei;  Aono, Masakazu
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Semiconducting tin compounds  Defects  Single crystals  Transmission electron microscopy