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计算机辅助检测光学薄膜参数特性的一种方法探讨 期刊论文
光学精密工程, 2000, 期号: 06, 页码: 540-543
作者:  胡君;  齐钰
caj(93Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：558/60  |  提交时间：2013/03/11
特征矩阵  逆运算  光学薄膜  光学厚度  计算机辅助检测