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The Influence of Junction Temperature Variation of LED on the Lifetime Estimation During Accelerated Aging Test 期刊论文
Ieee Access, 2019, 卷号: 7, 页码: 4773-4781
作者:  X.X.Wang;  L.Jing;  Y.Wang;  Q.Gao;  Q.Sun
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Life testing,lifetime estimate,light emitting diodes,white leds,degradation,reliability,depreciation,Computer Science,Engineering,Telecommunications  
Atmospheric Aerosol Multiband Synthesis Imaging Spectrometer 期刊论文
Applied Spectroscopy, 2019, 卷号: 73, 期号: 2, 页码: 221-228
作者:  X.X.Wang;  Z.H.Zhang;  S.R.Wang;  Y.Huang;  G.Y.Lin;  Z.F.Li;  X.H.Yang
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