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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
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High-power and reliable GaN-based vertical light-emitting diodes on 4-inch silicon substrate
期刊论文
Optics Express, 2019, 卷号: 27, 期号: 20, 页码: A1506-A1516
作者:
S.J.Zhou
;
H.H.Xu
;
B.Tang
;
Y.C.Liu
;
H.Wan
;
J.H.Miao
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提交时间:2020/08/24
wall-plug efficiency,extraction efficiency,enhancement,titanium,contact,stress,layer,films,Optics
High-Power GaN-Based Vertical Light-Emitting Diodes on 4-Inch Silicon Substrate
期刊论文
Nanomaterials, 2019, 卷号: 9, 期号: 8, 页码: 10
作者:
Q.Zhao
;
J.H.Miao
;
S.J.Zhou
;
C.Q.Gui
;
B.Tang
;
M.L.Liu
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提交时间:2020/08/24
VLED,silicon substrate,current spreading,Au-In eutectic bonding,laser lift-off,lift-off,leds,enhancement,fabrication,performance,sapphire,Science & Technology - Other Topics,Materials Science
Improvement in Light Output of Ultraviolet Light-Emitting Diodes with Patterned Double-Layer ITO by Laser Direct Writing
期刊论文
Nanomaterials, 2019, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 9
作者:
J.Zhao
;
X.H.Ding
;
J.H.Miao
;
J.F.Hu
;
H.Wan
;
S.J.Zhou
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提交时间:2020/08/24
UV LEDs,double-layer ITO,pinhole pattern,current spreading,light,output power,thin-films,transparent,electrodes,efficiency,leds,surface,blue,inactivation,enhancement,irradiation,Science & Technology - Other Topics,Materials Science
Fabrication of Dynamic Holograms on Polymer Surface by Direct Laser Writing for High-Security Anti-Counterfeit Applications
期刊论文
Ieee Access, 2019, 卷号: 7, 页码: 142926-142933
作者:
J.H.Miao
;
X.H.Ding
;
S.J.Zhou
;
C.Q.Gui
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提交时间:2020/08/24
Diffraction,Image reconstruction,Lasers,Microstructure,Light,sources,Kinematics,Holography,Dynamic hologram,anti-counterfeit,direct laser writing,3-dimensional display,algorithm,Computer Science,Engineering,Telecommunications
Insights Into the Influence of Sidewall Morphology on the Light Extraction Efficiency of Mini-LEDs
期刊论文
Ieee Photonics Journal, 2019, 卷号: 11, 期号: 4, 页码: 7
作者:
B.Tang
;
J.H.Miao
;
Y.C.Liu
;
S.J.Zhou
;
H.H.Xu
;
H.Wan
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提交时间:2020/08/24
Light extraction efficiency,mini-LED,sidewall morphology,TMAH etching,emitting-diodes,enhancement,damage,layer,Engineering,Optics,Physics