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测量高反射率的方法和装置 （发明） 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 1006089, 申请日期: 1990-08-15, 公开日期: 1990-08-15
发明人:  王占青;  陈奋飞;  周秀良
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监控光学镀膜厚度的双光束光学系统 （发明） 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 1988-04-20, 公开日期: 1988-04-20
发明人:  王占青
Adobe PDF(174Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：371/38  |  提交时间：2012/09/14