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Processes of the Reliability and Degradation Mechanism of High-Power Semiconductor Lasers 期刊论文
Crystals, 2022, 卷号: 12, 期号: 6, 页码: 26
作者:  Y. Song;  Z. Y. Lv;  J. M. Bai;  S. Niu;  Z. B. Wu;  L. Qin;  Y. Y. Chen;  L. Liang;  Y. X. Lei;  P. Jia;  X. N. Shan and L. J. Wang
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Fringe projection profilometry method with high efficiency, precision, and convenience: theoretical analysis and development 期刊论文
Optics Express, 2022, 卷号: 30, 期号: 19, 页码: 33515-33537
作者:  S. Z. Lv;  D. W. Tang;  X. J. Zhang;  D. Y. Yang;  W. J. Deng and K. M. Qian
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