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最短基线长度对集成干涉系统的影响
张震; 曾雪锋; 刘洋; 王灵杰; 张学军
2024
发表期刊光学学报
卷号44期号:23页码:106-114
摘要集成干涉成像是一种兼顾高分辨率和轻量化优势的远场成像技术,有望在保证高分辨率的同时将体积和功耗减小至1/10。针对最短基线长度对该系统成像的影响进行研究。首先,对集成干涉成像系统的工作原理进行分析,并结合采样定理,得出最短基线长度与最大观测视场之间的约束关系。然后建立仿真流程,在透镜匹配形式不变的情况下,通过调整微透镜间隔以改变最短基线长度,最终得到恢复图像。结果表明:在满足视场要求的情况下,通过延长基线可以提高系统的分辨能力,但是一旦突破最大观测视场的限制,由于空间混叠的存在,系统成像质量会明显下降,对应恢复图像的均方根误差平均增加31.02%,峰值信噪比平均下降28.21%。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/68624
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
2.中国科学院大学
3.应用光学国家重点实验室
4.光学系统先进制造重点实验室(中国科学院)
推荐引用方式
GB/T 7714
张震,曾雪锋,刘洋,等. 最短基线长度对集成干涉系统的影响[J]. 光学学报,2024,44(23):106-114.
APA 张震,曾雪锋,刘洋,王灵杰,&张学军.(2024).最短基线长度对集成干涉系统的影响.光学学报,44(23),106-114.
MLA 张震,et al."最短基线长度对集成干涉系统的影响".光学学报 44.23(2024):106-114.
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