光学元件亚表面缺陷表征与检测技术研究现状分析(特邀)

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	光学元件亚表面缺陷表征与检测技术研究现状分析(特邀)
	李凌众 ; 王孝坤; 戚二辉 ; 彭利荣; 于鹏亮 ; 苏航 ; 刘忠凯 ; 王晶 ; 罗霄 ; 张学军 ; 蔡铭宣
	2022-12-25
Source Publication	红外与激光工程
Volume	51 Issue:12 Pages:219-241
Abstract	光学元件常用脆性材料作为原材料，脆性材料加工过程中极易引入亚表面缺陷，亚表面缺陷对脆性材料的制造阶段和应用阶段均存在严重的危害。制造方面，亚表面缺陷影响工序的选择与衔接，易产生过加工、欠加工等问题，导致加工效率低下；应用方面，亚表面缺陷影响光学元件的成像质量、稳定性、使用寿命等关键技术参数。为了高效率、高质量地去除亚表面缺陷，全面表征和准确检测光学元件的亚表面缺陷至关重要。文中首先介绍了不同加工方式对应的亚表面缺陷形成机理与亚表面缺陷的表征方法研究现状；其次归纳总结了破坏性与非破坏性的亚表面缺陷检测方法，分别介绍了不同检测方法的原理、适用材料与加工阶段、优点与不足之处；并介绍了基于表面粗糙度、加工参数的亚表面缺陷预测方法；最后，对亚表面缺陷检测技术的发展趋势进行了展望。
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/66193
Collection	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Affiliation	1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 2.中国科学院大学 3.哈尔滨新光光电科技股份有限公司 4.长春理工大学光电工程学院
Recommended Citation GB/T 7714	李凌众,王孝坤,戚二辉,等. 光学元件亚表面缺陷表征与检测技术研究现状分析(特邀)[J]. 红外与激光工程,2022,51(12):219-241.
APA	李凌众.,王孝坤.,戚二辉.,彭利荣.,于鹏亮.,...&蔡铭宣.(2022).光学元件亚表面缺陷表征与检测技术研究现状分析(特邀).红外与激光工程,51(12),219-241.
MLA	李凌众,et al."光学元件亚表面缺陷表征与检测技术研究现状分析(特邀)".红外与激光工程 51.12(2022):219-241.

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光学元件亚表面缺陷表征与检测技术研究现状（2835KB）	期刊论文	出版稿	开放获取	CC BY-NC-SA	View Download

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