M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析

CIOMP OpenIR

	M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析
	吴云鹏 ; 王军
	2022
发表期刊	激光与光电子学进展
卷号	59 期号:11 页码:496-501
摘要	针对M型Czerny-Turner光谱仪在像差校正时可能会出现的二次衍射问题，提出了此光学结构在消慧差条件下的反二次衍射条件。分析了二次衍射出现的主要因素，并进行了理论推导。结合反二次衍射条件与消慧差优化的约束条件，搭建了M型消慧差Czerny-Turner结构光谱仪。为了验证理论分析的正确性，使用Zemax OpticStudio仿真软件进行了对比实验。仿真结果表明：满足约束条件的M型光路结构中不会出现二次衍射现象，而不满足约束条件的M型光路结构中则会出现二次衍射现象，与理论分析结果相符。在入射狭缝宽度为25μm、光栅刻线密度为600 line/mm的条件下，软件优化后的光学系统在200～500 nm范围内的光谱分辨率优于1 nm。
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文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/66154
专题	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位	1.苏州科技大学电子与信息工程学院 2.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	吴云鹏,王军. M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析[J]. 激光与光电子学进展,2022,59(11):496-501.
APA	吴云鹏,&王军.(2022).M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析.激光与光电子学进展,59(11),496-501.
MLA	吴云鹏,et al."M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析".激光与光电子学进展 59.11(2022):496-501.

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M型Czerny-Turner光谱仪结构（1470KB）	期刊论文	出版稿	开放获取	CC BY-NC-SA	浏览下载